镀层厚度荧光检测仪

• 企业类型：制造商
• 新旧程度：全新
• 原产地：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
• 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
• 探测器：Si-Pin探测器
• 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
• 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
• 温度要求：15℃至30℃。
• 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
• 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

软件优势

镀层厚度荧光检测仪采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，良好的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。

软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

参数规格

1   分析元素范围：S-U

2   同时可分析多达5层以上镀层

3   分析厚度检出限达0.005μm

4   多次测量重复性可达0.01μm

5   定位精度：0.1mm

6   测量时间：30s-300s

7   计数率：1300-8000cps8   Z轴升降范围：0-140mm9   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D) 

性能特点

1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，可以对同一镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可准确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加准确8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 

测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行准确定位测试，其测试位置如图。 结论

实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-20052.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3.库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

Thick800A镀层厚度荧光检测仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试准确，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。

仪器配置

1 硬件：主机壹台，含下列主要部件： 

①X光管                    

②半导体探测器

③放大电路                  

④高精度样品移动平台

⑤高清晰摄像头             

⑥高压系统

⑦上照、开放式样品腔        

⑧双激光定位⑨玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线rel="nofollow" 荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3 计算机、打印机各一台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。

5 标准附件准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）

测量标准

1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

应用行业

1.电子半导体行业接插件和触点的厚度测量2.印刷线路板行业功能镀层厚度测量3.贵金属首饰手表行业镀层厚度测量

4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量