更新时间:2024-01-21
磁性材料镀层测厚仪是国内的分析仪器厂家,公司主营产品X荧光检测仪具有快速、准确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器(RoHS检测)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。
磁性材料镀层测厚仪测试步骤
1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”:用户使用“Administrator”,密码:skyray2.进入测试软件后,选择“测试条件”点击“确定”,即测试条件确定(仪器已设置好)3.选择“工作曲线”如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推4.放入“Ag片”对仪器进行初始化初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到一定的数,如300以上)。5.待测样品测试放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。6.测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。
磁性材料镀层测厚仪技术参数
1 分析元素范围:S-U2 可分析多达3层以上镀层3 分析厚度检出限达0.02μm4 多次测量重复性可达0.05μm5 定位精度:0.5mm5 测量时间:30s-300s
6 计数率:1000-8000cps
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
镀层厚度分析;
RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测;
合金成分分析;
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例,分析的范围是0.02—30um,在这个范围内,才能检测。0.5-10um的,偏差是5%,就是说真值是1um,用仪器测试的值是0.95-1.05um。
天瑞仪器92年就开始做光谱仪,经过多年的积累,在镀层厚度检测方面,我们一直保持国内:主要原因是我们的性价比与售后服务具有很强的竞争力,这个优势不仅仅体现在购买价格上,也体现在产品生命周期花费的总体成本上。Thick600镀镍测厚仪是天瑞仪器价格zi优的镀层测厚仪;仪器采用下照式结构,适合平面样品的检测,配置的软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务可靠及时。
厂家优势 天瑞公司有完善的质量管理体系,从进口核心零部件的检测开始,到仪器的组装,数据的标定及考核,均严格把关,能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求,进行产品质量的管理,每道工序进行严格的检验,绝不允许不合格的流到下到工序;不合格的产品不出厂,坚决做到“三不”和“三不放过”,确保产品质量可靠,用户使用放心。
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片手动切换:不同样品材质用不同的准直器移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点高分辨率探测器:提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
硬件配置
1. 探测器2. 高、低压电源3. X光管 4. MCA多道分析器5. 高精密摄像头6. 移动平台(自动)7. 准直器8. 标准样品
厂家介绍
天瑞仪器是国内的分析仪器厂家,公司主营产品X荧光检测仪具有快速、准确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器(RoHS检测)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。