一.分析原理

X射线荧光光谱仪的工作原理是：原子经X射线激发，会发射出特征X射线。
测量特征谱线的能量或波长，可进行定性分析，测量谱线密度，与标准物质做对比计算，即可进行定量分析。

特征X荧光的产生过程
1.受到外界激发，电子吸收能量
2.电子逃逸
3.能级跃迁，以x射线的方式释放能量

即使同样的元素也会发生有不同的能量的X射线荧光
我们把外层跃迁到第一层释放的一系列射线叫K系，把跃迁到第二层释放的射线叫L系，第三层叫M系······
例如第二层跃迁到第一层叫Ka线，第三层跃迁到第一层叫Kβ，第三层跃迁到第二层叫La，第四层跃迁到第二层叫Lβ······

技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

应用领域

RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测